測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um
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新聞資訊
News時間：12-21 2023 來自：祥宇精密
一、影像測量儀簡介
影像測量儀是一種非接觸式光學測量設備，它通過計算機技術和圖像處理技術，對被測物體進行高精度、高效率的測量。影像測量儀具有高精度、高效率、高穩定性等優點，廣泛應用于機械制造、汽車制造、電子制造等領域。
二、影像測量儀的工作原理
- 光源照射
影像測量儀采用高亮度、高穩定性的光源，將光線照射在被測物體上。根據被測物體的材質和表面情況，可以選擇不同的光源類型，如LED、激光等。
- 光學成像
光線照射到被測物體后，通過光學系統將被測物體的圖像呈現在CCD或CMOS傳感器上。光學系統通常由透鏡、反射鏡等組成，用于調整光路和成像質量。
- 圖像處理
傳感器將呈現在其上的圖像轉換為數字信號，然后通過計算機進行圖像處理。圖像處理包括圖像增強、去噪、二值化等操作，以提高圖像的清晰度和對比度。
- 測量計算
在圖像處理完成后，計算機通過特定的算法對被測物體進行測量計算。這些算法通常包括幾何變換、擬合算法等，用于計算被測物體的尺寸、形狀等參數。
四、影像測量儀的應用領域
400-801-9255
聯系人：張小姐
電 話：0769-8160-1125
郵 箱：dgxycmm@163.com
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