測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um
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新聞資訊
News時間：10-23 2023 來自：祥宇精密
1. 影像測量儀
影像測量儀，顧名思義，是通過影像技術進行測量的設備。它主要利用光學原理，將目標物投射到攝像機上，從而獲得清晰的二維圖像。通過對圖像的處理和分析，可以得出目標物的尺寸、形狀等詳細信息。
影像測量儀的優點在于其非接觸性和高精度。它可以在不直接接觸目標物的情況下進行測量，避免了因直接接觸而產生的摩擦和熱量影響測量結果的問題。此外，通過先進的圖像處理技術，影像測量儀能夠實現納米級的精度，對于微小物體的測量尤為適用。
影像測量儀的應用領域廣泛，包括但不限于電子、半導體、生物醫學等行業。在這些領域中，對于精度要求高、需要避免接觸性摩擦影響的情況，影像測量儀都發揮了重要作用。
2. 三坐標測量機
與影像測量儀不同，三坐標測量機主要通過在三維空間內對目標物進行坐標定位來進行測量。它由三個線性軸組成，可以沿X、Y、Z三個方向移動，從而實現對目標物的全面定位和測量。
三坐標測量機的優點在于其全面性和高精度。它可以對目標物進行全方位的測量，包括長度、寬度、高度以及角度等信息。同時，通過精密的機械系統和先進的控制系統，三坐標測量機能夠實現微米級的精度，對于大型物體的測量尤為適用。
三坐標測量機的應用領域也相當廣泛，包括機械制造、汽車制造、航空航天等行業。在這些領域中，對于精度要求高、需要全面定位和測量的情況，三坐標測量機都是不二之選。
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