測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um
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新聞資訊
News時間：08-16 2023 來自：祥宇精密
一、三坐標測量儀簡介
三坐標測量儀是一種高精度測量設備，通過三個相互垂直的坐標軸進行測量。它能夠精準地檢測產品表面各個點的三維坐標，將實際尺寸與設計尺寸進行比較，以確保產品質量。三坐標測量儀廣泛應用于機械、電子、汽車、航空等領域。
二、三坐標測量儀使用方法
準備工作
（1）了解被測零件：熟悉零件的尺寸、形位公差等要求，以便設置合適的測量方案。
（2）制定測量計劃：根據被測零件的特點，選擇合適的探頭、測頭角度、測量點等，并制定詳細的測量計劃。
（3）安裝與調試：按照操作手冊正確安裝三坐標測量儀，并進行調試。
編程與操作
（1）編程語言：三坐標測量儀通常使用G代碼、IGES等編程語言進行操作。
（2）操作界面：通過友好的操作界面，設置測量參數、選擇測量程序等。
（3）試運行：在正式測量前，先進行試運行，檢查探頭運動、測量數據是否正常。
測量過程
（1）裝夾被測零件：確保零件牢固、穩定地安裝在測量臺上。
（2）探頭校準：對探頭進行校準，消除探頭誤差對測量結果的影響。
（3）測量點選擇：根據測量計劃，選擇合適的測量點，并記錄測量數據。
（4）數據分析：對測量數據進行處理、分析，提供準確的檢測報告。
維護與保養
（1）日常維護：定期對三坐標測量儀進行除塵、潤滑等保養，確保設備正常運行。
（2）定期校準：定期對三坐標測量儀進行校準，確保設備精度。
（3）探頭維護：定期檢查探頭磨損情況，如有需要更換探頭。
三、使用注意事項
嚴格遵守操作規程，確保設備安全。
避免在測量過程中劇烈震動，以免影響測量精度。
定期進行設備校準，確保設備處于最佳工作狀態。
注意探頭保護，避免過度磨損。
對于復雜零件，需采用多種測量方法，確保數據準確。
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聯系人：張小姐
電 話：0769-8160-1125
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