測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um
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新聞資訊
News時間：07-29 2023 來自：祥宇精密
影像測量儀是一種非常重要的設備，用于精確地測量各種零部件和組件。為了確保測量結果的準確性和可比性，需要定期對影像測量儀進行校準。
一、誤差來源
影像測量儀的誤差主要來源于以下幾個方面：
相機像素誤差：由于相機像素的不均勻性，會導致測量結果出現誤差。
照明條件誤差：照明條件的改變會影響物體的形狀和顏色，從而影響測量結果。
物體放置誤差：物體放置的不平整或者不規范，也會導致測量結果出現誤差。
軟件算法誤差：影像測量儀的軟件算法不完善，會導致測量結果出現誤差。
二、校準方法
影像測量儀的校準方法主要有以下幾種：
標準量塊比對法：將影像測量儀與標準量塊進行比對，從而確定影像測量儀的誤差范圍。
坐標系比對法：建立影像測量儀的坐標系，通過比對坐標系中的實際值和測量值，確定影像測量儀的誤差范圍。
激光掃描法：使用激光掃描儀對物體進行掃描，并與影像測量儀的測量結果進行比對，從而確定影像測量儀的誤差范圍。
三、標準
根據國家標準，影像測量儀的校準規范允許誤差范圍如下：
長度誤差：±0.05mm；
寬度誤差：±0.03mm；
高度誤差：±0.03mm；
角度誤差：±0.05°。
總之，影像測量儀的校準規范允許誤差范圍是保證測量結果準確性和可比性的重要指標。在進行影像測量時，需要根據實際情況選擇合適的校準方法，確保誤差在允許范圍內，從而提高測量的準確性和可靠性。
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