測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um
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新聞資訊
News時間：06-30 2023 來自：祥宇精密
在現代科技領域中，光學測量技術在各個領域都發揮著重要作用。而光學測長儀設備作為其中的一種重要工具，被廣泛應用于精密測量領域。
一、光學測長儀設備的定義
光學測長儀設備是利用光學原理進行長度測量的儀器。它通過測量光的干涉、衍射或頻率來確定被測對象的長度。光學測長儀設備通常由光源、分束器、測量物體、檢測器和信號處理系統等組成。
二、光學測長儀設備的工作原理
光學測長儀設備的工作原理基于干涉測量的原理。干涉是指兩束或多束光相互疊加產生明暗交替的現象。根據干涉的特性，可以精確地計算出被測物體的長度。
光學測長儀設備中常用的測量原理包括干涉法、衍射法和頻率法。
1. 干涉法
干涉法是通過光的干涉現象來測量長度的一種方法。它利用兩束或多束光線的干涉產生明暗交替的干涉條紋，通過計算條紋的數量或間距，可以確定被測物體的長度。
其中，常用的干涉法包括白光干涉法和相干光干涉法。白光干涉法利用白光的干涉現象進行測量，適用于大范圍的長度測量。相干光干涉法則使用具有相同頻率和相位的相干光源，提高了測量的精度和穩定性。
2. 衍射法
衍射法是一種利用光的衍射現象來測量長度的方法。它通過光線在物體邊緣產生衍射現象，形成衍射圖樣，并通過分析圖樣的特征來確定被測物體的長度。
衍射法中常用的方法包括菲涅爾衍射法和菲涅爾-富里埃衍射法。菲涅爾衍射法適用于近場測量，而菲涅爾-富里埃衍射法則適用于遠場測量。
3. 頻率法
頻率法利用光的頻率特性進行長度測量。它基于頻率和長度之間的關系，通過測量光源的頻率變化或被測物體對光頻的影響來確定長度。
頻率法中常用的方法包括光柵頻率法和腔內穩定激光頻率法。光柵頻率法利用光柵的頻率特性進行測量，適用于高精度的長度測量。腔內穩定激光頻率法則通過測量激光腔內的頻率穩定性來實現長度測量。
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